用于探测测量区域中的物质的光学探测系统.pdfVIP

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  • 2023-05-30 发布于四川
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用于探测测量区域中的物质的光学探测系统.pdf

本发明涉及一种具有两级均化设备(1)和接收器(42)的探测系统。朝着光子场的场方向(50)来看,均化设备(1)处于测量区域(44)与接收器(42)之间,并且包括第一扩散器(10)和第二扩散器(12)。第一扩散器(10)从输入光子场中产生中间光子场。第二扩散器(12)从中间光子场中产生输出光子场。根据入射的光子场,接收器(42)产生信号。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112469989 A (43)申请公布日 2021.03.09 (21)申请号 201980050073.2 (74)专利代理机构 中国专利代理(香港)有限公

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