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X射线测量装置的校正方法.pdfVIP

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  • 2023-05-30 发布于四川
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X射线测量装置的校正方法.pdf

    本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：前段特征位置计算工序，将配置于N个部位的球的平行移动进行多次，确定处于N个部位的球各自的投影像的重心位置；单独矩阵计算工序，针对球分别计算单独投影矩阵；单独位置计算工序，基于单独投影矩阵来计算球各自的移动位置；坐标统一工序，计算球的特定的相对位置间隔；后段特征位置计算工序；变换矩阵计算工序，计算投影变换矩阵；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而发生变形，也能够通过简单的工序容易地计算例如将被测定物以能够

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112461165 A (43)申请公布日 2021.03.09 (21)申请号 202010940511.7 (22)申请日 2020.09.09 (30)优先权数据 2019-1639

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