一种存储性能测试方法、装置、电子设备.pdfVIP

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2023-05-30 发布于四川
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一种存储性能测试方法、装置、电子设备.pdf

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本发明公开了一种存储性能测试方法、装置、电子设备，所述测试方法包括：向终端的存储器写入测试数据；在向所述存储器写入所述测试数据的过程中中断向所述终端的供电；向所述终端供电；接收所述存储器存储的实际数据；比对所述测试数据与所述实际数据；以及根据比对结果生成并输出表征所述终端存储性能的数据。综上，通过在存储器写入测试数据的过程模拟终端异常断电，再次向终端供电后，接收所述存储器存储的实际数据。比对所述测试数据与所述实际数据以判断存储器在异常断电瞬间前数据存储能力。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112445669 B (45)授权公告日 2022.08.02 (21)申请号 201910837521.5 G11C 29/56 (2006.01) (22)申请日 2019.09