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- 2023-05-30 发布于四川
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本申请实施例涉及芯片测试领域,提供一种探针卡的检测方法、检测系统以及修复方法,探针卡的检测方法包括:获取压焊点区域图像;通过压焊点区域图像获取子图,子图为一个压焊点的图像;子图对应的压焊点具有压痕;基于卷积神经网络检测子图,以获取每个子图的第一异常信息,第一异常信息包括:子图是否存在异常以及子图的异常种类;组合每个子图的第一异常信息,以获取压焊点区域图像的第二异常信息,第二异常信息包括:压焊点区域图像是否存在异常以及压焊点区域图像的异常种类;通过第二异常信息获取探针卡的异常情况。本申请实施例至少
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115829899 A
(43)申请公布日 2023.03.21
(21)申请号 202111070323.4 G06N 3/08 (2023.01)
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