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本发明公开了一种半导体表面金属处理方法,所述方法包括:采用磁控溅射沉积的方法在半导体表面沉积镍过渡层。本发明通过对半导体进行表面真空溅射镀镍膜,由于真空镀膜过程中半导体不受任何外力,不会破裂,因此保证了产品的质量。采用磁控溅射沉积的方法除了能提高成品率之外,还可以用于制造晶片厚度在1mm以下的半导体制冷片,进一步拓展了产品种类,扩大了产品的应用范围。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112442665 A
(43)申请公布日
2021.03.05
(21)申请号 20191
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