一种导致前脑无裂畸形11型的致病基因CDON突变的应用及检测试剂.pdfVIP

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  • 2023-05-31 发布于四川
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一种导致前脑无裂畸形11型的致病基因CDON突变的应用及检测试剂.pdf

本发明提供了一种导致前脑无裂畸形11型的致病基因CDON突变c.2014CT的应用及诊断试剂,属于基因诊断技术领域。本发明通过外显子组测序技术首次发现了CDON:NM_016952.5:exon10:c.2014CT:p.R672*位点突变导致前脑无裂畸形11型(MIM614226)。本发明中检测CDON突变c.2014CT的试剂用于筛查或诊断前脑无裂畸形11型,以指导患者治疗和帮助优生优育,为前脑无裂畸形11型的发病机制研究提供了新的基础和途径,为前脑无裂畸形11型治疗提供新的理论依据

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115786498 A (43)申请公布日 2023.03.14 (21)申请号 202211620955.8 (22)申请日 2022.12.16 (71)申请人 湖南家辉

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