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- 2023-05-31 发布于四川
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本发明公开了一种透反射式太赫兹测量系统及方法，涉及太赫兹光谱测量领域；具体地，一种透反射式太赫兹测量系统包括：太赫兹辐射源，太赫兹分束器，反射式样品台，透射式样品台，太赫兹探测器；其中，太赫兹辐射源发射太赫兹脉冲，太赫兹分束器对所述太赫兹脉冲进行透射得到第一透射脉冲或进行反射得到第一反射脉冲；所述第一透射脉冲在所述待测反射样品表面发生反射得到第二反射脉冲；所述第二反射脉冲经所述太赫兹分束器反射得到第三反射脉冲；所述太赫兹分束器顺时针调节90度，所述第一反射脉冲透射过所述透射式样品台得到第二透射脉
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115791688 A
(43)申请公布日 2023.03.14
(21)申请号 202211615939.X
(22)申请日 2022.12.15
(71)申请人 西南科技大学
地址 621010
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