一种基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法.pdfVIP

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  • 2023-05-31 发布于四川
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一种基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法.pdf

本发明涉及一种基于Kconfig自动配置系统的增量自动批量回归测试方法,包括如下步骤:步骤S1:为实际芯片产品的不同应用模式生成基准配置的Kconfig默认配置;步骤S2:为不同测试用例生成基于基准配置的增量配置,所述增量配置包括测试环境增量配置和测试功能增量配置;步骤S3:在测试机台上实现用于回归测试的启动和停止功能,测试框架将测试程序提交给测试机台,完成测试;步骤S4:自动回归测试框架实现批量执行功能。本发明利用Kconfig提供的自动修改配置功能,构筑回归测试系统,来达到大规模芯片验证加速

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115794656 A (43)申请公布日 2023.03.14 (21)申请号 202211658628.1 (22)申请日 2022.12.22 (71)申请人 苏州睿芯集成电路科技有限公司 地址

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