本实验为验证性实验.docx

试验一 门电路 本试验为验证性试验一、试验目的 生疏门电路的规律功能。 二、试验原理 TTL 集成与非门是数字电路中广泛使用的一种根本规律门。使用时，必需对它的规律功能、主要参数和特性曲线进展测试，以确定其性能的好坏。与非门规律功能测试的根本方法是按真值表逐项进展。但有时按真值表测试显得有些多余。根椐与非门的规律功能可知,当输入端全为高电寻常，输出是低电平；当有一个或几个输入端为低电寻常，输出为高电平。 可以化简规律函数或进展规律变换。三、试验内容及步骤 14 Vcc6图 17.1 14 Vcc 6 图 17.1地 接)，待认真检查前方可通电进展试验，以后全部试验均依此办理。 (一)、测与非门