IGBT器件及其制作方法.pdfVIP

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  • 2023-05-31 发布于四川
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本申请公开了一种IGBT器件及其制作方法,该器件包括:衬底,衬底中形成有第一栅极和第二栅极,衬底表面,以及第一栅极、第二栅极和衬底之间形成有栅介质层;衬底的正面至第一深度形成有第一掺杂区,衬底的正面至第二深度形成有第一重掺杂区,衬底的背面至第三深度形成有第二掺杂区,衬底的背面至第四深度形成有第二重掺杂区,第二深度小于第一深度,第四深度小于第三深度;第一栅极和第二栅极之间形成柱形掺杂区,柱形掺杂区的底部低于第一栅极和第二栅极的底部,柱形掺杂区的顶部低于第一栅极和所述第二栅极的顶部。本申请通过在IG

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115799315 A (43)申请公布日 2023.03.14 (21)申请号 202211491920.9 (22)申请日 2022.11.25 (71)申请人 华虹半导体(无锡)

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