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一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置及方法.pdfVIP

一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置及方法.pdf

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    本发明公开一种基于X射线实时成像的缺陷测量装置及方法，包括支撑底座，所述支撑底座上设置有高度调节装置，所述高度调节装置上旋转固定有标尺，所述标尺设置在被检测产品的上方；所述标尺上设置有多个不同直径的检测孔，且所述多个检测孔之间的间距不等，所述检测孔的轴向与被检测产品方向相同。简化了X射线实时成像检测评判过程，快速获得缺陷尺寸，提高检测效率，适用于泡沫、橡胶、轻质陶瓷、薄壁件金属等X射线探伤检测材料。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112525930 A (43)申请公布日 2021.03.19 (21)申请号 202011422829.2 (22)申请日 2020.12.08 (71)申请人 中国工程物理研究院材料研究所

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