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- 2023-06-02 发布于四川
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本发明公开一种工业显微镜图像处理系统,包括图像采集处理模块、反光干扰分析模块、光强优化处理模块、图像反光降素处理模块和图像异区定位补偿模块。本发明通过分析出环境照明光对样本表面材质所造成的反射互干扰系数,以分析出显微镜进行图像采集时的最优灰度值,并根据最优灰度值调整显微镜照明光强,并对照明光强调节后的样本图像中的反光区域内所有像素点进行降素处理以及对样本图像中各像素点的灰度值小于设定的下限灰度值阈值的像素点的灰度值进行补偿,能够保证显微镜照明光强下所采集的样本图像能同时反光区域和暗区的采集需求,
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115760654 A
(43)申请公布日 2023.03.07
(21)申请号 202310031426.2 G06T 7/70 (2017.01)
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