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本发明提供一种半导体结构、三维存储器及各自的制备方法,半导体结构的制备方法包括:提供半导体衬底,于半导体衬底上形成叠层结构,叠层结构包括沿X方向划分的存储区及连接区,连接区至少包括第一连接分区及第二连接分区,对第一连接分区的叠层结构进行预设层级数的预设刻蚀,再对第一连接分区剩余的叠层结构进行同步刻蚀,对第二连接分区的叠层结构进行同步刻蚀,得到待形成台阶。本法发明采用预设刻蚀(chop)以及同步刻蚀(trimandetch)相结合的工艺,降低了器件制备的工艺难度减少了掩膜版数量,结合X方向及Y
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115802749 A
(43)申请公布日 2023.03.14
(21)申请号 202211457101.2 H10B 41/42 (2023.01)
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