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- 2023-06-04 发布于四川
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本发明公开了一种光纤端面几何测试纤芯注入光源控制方法,通过调整单色仪对白光光源进行光谱筛选,选择特定波长的输出光作为光纤端面几何芯层测试的注入光源;在特定波长附近精细调节注入光源波长,不同波长频率的光在光纤中衰减不同,通过频率调节控制光纤注入光强,直至光纤端面几何测试设备能够获取清晰图像并完成光纤芯层几何测试。本发明方法用于在光纤生产测试环节,相比于现有光纤端面几何测试设备的控制流程及方法,本发明能够明显提高光纤端面几何测试设备测试效率,减少设备损耗器件,减少测试设备动作部件,降低设备故障率。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112697393 A
(43)申请公布日 2021.04.23
(21)申请号 202011557785.4
(22)申请日 2020.12.25
(71)申请人 长飞光纤光缆股份有限公司
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