1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

一种融合完整截面与修正能谱模型的事件率预估方法.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约1.7万字
  • 约 19页
  • 2023-06-06 发布于四川
  • 举报

一种融合完整截面与修正能谱模型的事件率预估方法.pdf

    一种融合完整截面与修正能谱模型的事件率预估方法，它有五大步骤：一、获取20‑180MeV能量范围的敏感截面数据；二、基于支持向量机预测敏感截面；三、验证预测得到的敏感截面数据；四、低能量条件下的截面补充与验证；五、融合修正能谱模型对事件率进行预估。该发明主要针对敏感截面数据不足的问题进行预估和验证，融合修正能谱模型对单粒子效应事件率进行预估，它可以定量分析机载电子设备的可靠性与安全性，为机载电子设备单粒子效应的防护提供依据。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112765869 A (43)申请公布日 2021.05.07 (21)申请号 202110010127.1 (22)申请日 2021.01.05 (71)申请人 北京航空航天大学 地址

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >