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一种可用于穿刺取样的密封组合盖垫及其制备方法.pdfVIP

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  • 2023-06-06 发布于四川
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一种可用于穿刺取样的密封组合盖垫及其制备方法.pdf

    本发明公开的一种可用于穿刺取样的密封组合盖垫包括盖本体和密封垫片，盖本体底部平整、且中心设有帽孔，帽孔外围形成环形面，密封垫片为梯形。制备本发明密封组合盖垫的方法步骤如下：(1)表面处理：对盖本体内底部的环形面、密封垫片上底上与盖本体内底环形面对应的环形区域进行紫外光辐照处理；(2)涂胶：在盖本体内底部环形面的中间环形线上进行涂胶；(3)装配、持压：将密封垫片的梯形上底面向盖本体内底装入，持续顶压密封垫片；(4)静置：常温常压常湿下静置密封组合盖垫。通过本发明制备的密封组合盖垫洁净度高、密封性、

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112758511 A (43)申请公布日 2021.05.07 (21)申请号 202011565201.8 (22)申请日 2020.12.25 (71)申请人 浙江爱吉仁科技股份有限公司

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