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本发明涉及一种高质量SiC单晶制备装置及方法,属于晶体生长领域。解决了SiC单晶质量不佳,生长不够均匀,厚度达不到市场需求的问题。包括上盖、籽晶、下盖、坩埚主体、滤网、保温体、动力杆、石英管和加热线圈,所述坩埚主体内放置滤网,坩埚主体的上部设置下盖和上盖,下盖位于上盖下侧,下盖的下侧连接籽晶,上盖的上侧连接动力杆,坩埚主体外壁包覆有保温体,坩埚主体置于石英管内侧,石英管的外侧安装加热线圈。可以有效去除杂质的同时,防止二次引入新杂质,有效提高晶体质量;碳化硅原料由石墨滤网固定,在提纯以及长晶期间可
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112779596 A
(43)申请公布日 2021.05.11
(21)申请号 202110249485.8
(22)申请日 2021.03.08
(71)申请人 哈尔滨科友半导体产业装备与技术
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