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芯片测试装置及芯片测试系统.pdfVIP

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  • 2023-06-06 发布于四川
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芯片测试装置及芯片测试系统.pdf

    本发明公开一种芯片测试装置及芯片测试系统。芯片测试系统包含芯片测试装置及环境控制设备。芯片测试装置的电路板的一侧设置有多个电连接座，电路板的另一侧设置有多个测试模块。电路板被第一固定构件及第二固定构件夹持，且第一固定构件及第二固定构件将多个电连接座夹持固定于电路板的一侧，而电连接座与电路板之间无须通过锁固件相互锁固。当芯片测试装置取得电力时，各测试模块能对其所连接的电连接座所承载的芯片进行测试。各芯片设置于电连接座后，将可随芯片测试装置一同设置于高温环境或低温环境进行测试，而芯片无须反复地拆装。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112802536 A (43)申请公布日 2021.05.14 (21)申请号 20191

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