非对称结构芯片的极性测试方法及系统.pdfVIP

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2023-06-06 发布于四川
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非对称结构芯片的极性测试方法及系统.pdf

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本发明提供了一种非对称结构芯片的极性测试方法及系统，针对内部结构非对称的芯片，通过向其输入激励，并测试设定引脚位置的电气特性，以判别芯片的放置方向。本发明价格低廉、体积小巧、简单易用的极性测试装置，作为独立装备销售使用时使得封测企业可以很大程度上降低设备采购成本和人员培训成本，如果作为分选等设备的附加组件使用也可以增加设备的附加值，提高其市场竞争力。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112782565 A (43)申请公布日 2021.05.11 (21)申请号 202110128472.5 (22)申请日 2021.01.29 (71)申请人福州派利德电子科技有限公司