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- 2023-06-06 发布于四川
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一种芯片、芯片测试方法及电子设备。芯片包括：组合逻辑(10,100)和数据路径选通电门(20；200)；数据路径选通电门(20,200)包括第一输入端和输出端，其中数据路径选通电门(20,200)的第一输入端检测测试使能信号，数据路径选通电门(20,200)的输出端连接至组合逻辑(10，100)；测试使能信号用于切换芯片的测试模式；数据路径选通电门(20,200)配置为在检测的测试使能信号指示的当前测试模式与组合逻辑(10,100)的数据路径功能不相关时，向组合逻辑(10,100)输出数据路径选
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112805577 A
(43)申请公布日 2021.05.14
(21)申请号 201980039412.7 (51)Int.Cl.
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