一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置.pdfVIP

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  • 2023-06-06 发布于四川
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一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置.pdf

本发明涉及芯片制造技术领域,且公开了一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,包括外壳,所述外壳的外侧活动连接有风扇,自动对芯片进行夹持固定,避免其在检测过程中发生移动,有利于检测操作的进行,并且利用固定操作的运行情况,触发散热操作和翻转操作,增大结构之间的联动性,操作便捷,具有较高的自动化程度,通过风扇的作用,在检测的同时利用风力作用对芯片进行时散热,避免由于芯片检测过程中,长时间运作产生的热量堆积导致芯片被烧坏,使芯片保持正常工作,检测操作顺利进行,通过夹块、转杆、非全齿轮和第二转动

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112763891 A (43)申请公布日 2021.05.07 (21)申请号 202011542733.X (22)申请日 2020.12.23 (71)申请人 黄乾坤 地址 236

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