1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

一种芯片及芯片的测试系统.pdfVIP

  • 2
  • 0
  • 约1.73万字
  • 约 17页
  • 2023-06-06 发布于四川
  • 举报

一种芯片及芯片的测试系统.pdf

    本发明实施例提供一种芯片及芯片的测试系统，外部设备通过判断芯片内是否存储可测控制信号数据，获得芯片是否可测，从而减少了测试的时间及误判。该芯片包括：裸片，管脚；所述裸片的内部包括功能选择模块、内部电路、功能模块和测试信号产生模块；所述内部电路与所述功能模块相连，所述测试信号产生模块与所述功能模块相连；所述功能选择模块与所述管脚相连，并用于接收外部设备发送的数据信号，且根据所述数据信号连接所述功能模块或所述测试信号产生模块。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112782551 A (43)申请公布日 2021.05.11 (21)申请号 20191

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >