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一种可调节角度的半导体检测系统及其使用方法.pdfVIP

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  • 2023-06-07 发布于四川
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一种可调节角度的半导体检测系统及其使用方法.pdf

    本发明公开了一种可调节角度的半导体检测系统及其使用方法，属于半导体检测技术领域。一种可调节角度的半导体检测系统，包括底座、控制柜和检测箱，控制柜连接于底座顶部，检测箱设置于控制柜顶部，检测箱顶部设置有报警灯，控制柜内部设置有转动调节机构，检测箱内部设置有角度调节组件，角度调节组件输出端连接有检测装置，角度调节组件包括伺服电机和固定架，控制柜顶部转动连接有转动盘，转动盘顶部滑动连接有检测模具，检测模具内放置有半导体器件；本发明通过转动转动盘及检测模具能实现批量检测，极大的提高了检测效率，还能调节检

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112834893 A (43)申请公布日 2021.05.25 (21)申请号 202110011800.3 (22)申请日 2021.01.06 (71)申请人 范凯燕 地址 261

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