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- 2023-06-11 发布于上海
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太阳能硅片及电池片检测方法;SEMILAB CHINA;SEMILAB CHINA;传统的μ-PCD 测量技术;传统的μ-PCD 测量技术;QSS μ-PCD测量技术特点;传统的μ-PCD与QSS μ-PCD之间的比较;传统的μ-PCD与QSS μ-PCD之间的比较:测试举例;QSS μ-PCD的应用:测试举例;QSS μ-PCD的应用:测试举例;QSS μ-PCD的应用:发射极饱和电流J0;SEMILAB CHINA;传统的μ-PCD、QSS μ-PCD和SPV技术比较;SPV技术测量扩散长度: Ultimate SPV;SPV技术测量扩散长度举例;SPV技术应用:Fe含量的测量;SPV技术应用:ALID(加速光致衰退)测量;SPV技术应用:ALID(加速光致衰退)测量;SEMILAB CHINA;全自动
检测速度快(3600 wfr/h)
图像质量好
低噪声
高分辨率
可用少子寿命检测(μ-PCD)标定
可在线检测硅片、电池片半成品或成品
有在线和离线两种;;SEMILAB CHINA;非接触CV测量技术的必要性;非接触 CV 测量的四个基本要素;非接触 CV 测量的测量次序;非接触 CV 测量的应用举例:
电池片中钝化层及界面质量控制;非接触 CV 测量的应用举例;QSS μ-PCD和非接触CV技术配合使用:
用Corona电荷实现场效应钝化;SEMILAB CHINA;SE
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