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本发明提供一种套圈的尺寸测量机构以及尺寸测量方法，套圈的尺寸测量机构包括设置在测量工位的左右两侧的左定位架和右定位架、以及设置在测量工位的前后两侧的旋转推进装置和内径测量装置；所述左定位架固定设置，所述右定位架可左右平移设置；还包括多个位移传感器，多个位移传感器分别测量右定位架的左右平移距离、旋转推进装置的前后平移距离、内径测量装置中二个插入部之间的间距以及左侧插入部的平移距离。采用一个工位即可同时测量套圈的内径、外径、厚度、壁厚、外径圆度、内径圆度以及同轴度参数，结构设计巧妙、紧凑且成本低。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116222470 A
(43)申请公布日 2023.06.06
(21)申请号 202310128296.4
(22)申请日 2023.02.17
(71)申请人 苏州韦士肯检测科
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