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本发明属于飞秒激光光谱学技术领域，涉及一种纳米厚度半导体薄膜异质结层间电荷转移的光学探测方法，包括：基频脉冲光入射到半导体薄膜异质结样品；激发半导体薄膜异质结，产生层间空间电场；层间空间电场诱导产生场致二次谐波；探测半导体薄膜异质结的场致二次谐波，实现了飞秒‑纳秒时间尺度内载流子输运过程的探测。具有及时响应的特性和极高的时间分辨率，同时不需要镀电极，且具有非接触的特点，保留了材料自身的固有性质，并实现纳米级的空间分辨率和可定位的特性。首次实现了利用光信号去探测电信号，同时具有极高的时间分辨率和空
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112881509 A
(43)申请公布日 2021.06.01
(21)申请号 202110002364.3
(22)申请日 2021.01.04
(71)申请人 北京交通大学
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