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- 2023-06-09 发布于四川
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本发明公开一种介观尺度下微缺陷高分辨率成像检测方法及装置，其检测方法包括：在被检测试件的表面布置多条超声检测路径，在被检测试样中激励与接收特定频率下的超声导波，分析各条超声检测路径下接收信号频域中二次谐波，根据二次谐波的幅值构建信号差异系数；根据上述信号差异系数，得到缺陷概率分布图像；并利用多输入卷积神经网络模型得到对应被检测试件的二次谐波幅值和缺陷概率分布图像，构成介观尺度下微缺陷几何特征信息与其对应超声特征信息之间的映射关系，几何特征信息包括介观尺度下微缺陷的尺寸与位置，超声特征信息包括二次
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115718144 A
(43)申请公布日 2023.02.28
(21)申请号 202211428588.1
(22)申请日 2022.11.15
(71)申请人 厦门大学
地址 361000 福
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