一种半导体测试用芯片高效更换插接装置.pdfVIP

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2023-06-10 发布于四川
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一种半导体测试用芯片高效更换插接装置.pdf

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本发明涉及半导体芯片的测试技术领域，具体为一种半导体测试用芯片高效更换插接装置，包括插接机构、第一伺服电机、第二电机和鼓风机，所述第一外壳内部的顶端开设有第一传动仓，所述推块的内部皆设置有三组缓冲机构，所述装夹块的内部设置有吹尘机构，所述吹尘机构包括气腔，所述装夹块的左端开设有第二收纳仓。本发明避免用户在安装半导体芯片主体时浪费大量的工作时间，本装置可大大的减少用户插接半导体芯片主体的时间，大大的提高了用户的工作效率，具有很强的实用性，避免因插槽内部的灰尘影响插槽和半导体芯片主体的接触，进而导致

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112928579 A (43)申请公布日 2021.06.08 (21)申请号 202110204669.2 (22)申请日 2021.02.24 (71)申请人吴强地址 5100