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本公开提供一种发光二极管失效定位方法，其中，发光二极管具有塑封结构，方法包括：电性能测试失效发光二极管的电参数，根据电参数判断是否为连接失效；若是，确定封装和外部引脚是否正常；若是，射线测试确定内部引脚和芯片是否正常；若是，射线测试确定是否为键合丝内部断裂；若是，减薄塑封结构，确定键合丝内部断裂的位置。用于各种塑封结构的发光二极管。通过进行物理测试、机械研磨、化学开封相结合逐步定位失效点。对于周围存在有机物的包裹，断裂裂纹间隙很小，有还处于时通时断状态的发光二极管，可以完整地保留键合丝形态，并对
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112924840 A
(43)申请公布日 2021.06.08
(21)申请号 202110216537.1
(22)申请日 2021.02.26
(71)申请人 航天科工防御技术研究试验中心
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