一种芯片测试用探针和芯片测试装置.pdfVIP

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2023-06-11 发布于四川
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一种芯片测试用探针和芯片测试装置.pdf

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本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试用探针和芯片测试装置，芯片测试用探针包括探针保持体，设置在插座壳体中，于所述探针保持体的一端开设有安装孔；第一弹簧，所述第一弹簧穿设在所述安装孔中，所述第一弹簧的一端与所述安装孔的底面抵接；探针针头，一端穿设在所述安装孔中，且与所述第一弹簧的另一端抵接，所述探针针头的另一端相对所述插座壳体上的探针孔伸出，所述探针针头能够沿所述安装孔的轴向往复移动；第二弹簧，套设在所述探针保持体上，且一端能够与所述探针保持体抵接，另一端与所述插座壳体抵接。本发明够保

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113009196 B (45)授权公告日 2022.03.18 (21)申请号 202110231417.9 G01R 31/28 (2006.01) (22)申请日