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本发明提供一种用于纳米发光材料的性能测试装置,包括底板,所述底板的上端固定有滑板,所述滑板的后端滑动连接有升降杆,所述升降杆的右端转动连接有光源,所述滑板的前方在底板的上端位置处固定有电子天平,所述电子天平的右方在底板的上端位置处转动连接有转动板,所述转动板的上端插接有镶嵌盒,本发明中通过转动装置能带动转动齿转动,转动齿带动升降装置在滑轨架表面稳定移动,在需要固定时推动直立杆使直立杆表面的固定块进入定位板表面的凹槽,则直立杆的位置固定,即可将升降装置稳定固定在滑轨架的表面,加快红外测温仪的调整速
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 112986151 A
(43)申请公布日 2021.06.18
(21)申请号 202110131165.2
(22)申请日 2021.01.30
(71)申请人 上海上应新能源科技有限公司
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