一种高链路预算的芯片射频指标测试方法及系统.pdfVIP

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2023-06-12 发布于四川
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一种高链路预算的芯片射频指标测试方法及系统.pdf

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本发明涉及到芯片测试领域，尤其涉及一种高链路预算的芯片射频指标测试方法及系统。方法具体包括：步骤S1，设置衰减链路；步骤S2，根据链路衰减预算调节衰减链路；步骤S3，待测芯片通过调节后的衰减链路将第一射频信号发射至标准芯片；步骤S4，标准芯片根据第一射频信号，生成第二射频信号并通过衰减链路反馈至待测芯片；步骤S5，根据第一射频信号、第二射频信号和链路衰减预算获取待测芯片的射频指标测试结果。本发明的技术方案有益效果在于：提供一种高链路预算的芯片射频指标测试方法及系统，通过待测芯片与标准芯片之间的通

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113037401 B (45)授权公告日 2023.03.28 (21)申请号 202110271793.0 (56)对比文件