一种用于液晶屏的导电粒子缺陷检测的深度学习算法.pdfVIP

一种用于液晶屏的导电粒子缺陷检测的深度学习算法.pdf

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本发明提供本发明提供一种用于液晶屏的导电粒子缺陷检测的深度学习算法，通过收集带缺陷的粒子图像，标注缺陷图像，设置训练的参数，修改卷积神经网络的层和结点，预测目标图像所包含的缺陷，实现缺陷的有效识别。本发明能检测出导电粒子的优劣，检测精度和检测稳定性高，提高了视觉检测设备的功能性和稳定性。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113012139 A (43)申请公布日 2021.06.22 (21)申请号 202110332793.7 G06N 3/08 (2006.01) (22)申请日 20

知识产权出版社有限责任公司（原名专利文献出版社）成立于1980年8月，由国家知识产权局主管、主办。长期以来，知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作，经过多年来的积累，已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。

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