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本申请公开了一种功率半导体器件及其制造方法,该功率半导体器件具有相邻的元胞区与终端区,功率半导体器件包括:半导体层,具有相对的第一表面与第二表面;多个沟槽结构,位于元胞区,每个沟槽结构沿半导体层的厚度方向延伸;分压环,位于终端区,分压环围绕元胞区;以及第一掺杂区,自终端区的部分分压环向元胞区延伸,与元胞区内的部分沟槽结构的底部接触,第一掺杂区部分位于分压环暴露的台面下方,部分位于元胞区内的部分沟槽结构的底部,第一掺杂区的掺杂浓度大于分压环的掺杂浓度,通过设置第一掺杂区,减少因电场作用产生的碰撞离
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113054011 A
(43)申请公布日 2021.06.29
(21)申请号 202110181777.2
(22)申请日 2021.02.09
(71)申请人 杭州士兰集昕微电子有限公司
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