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本发明涉及一种测试设备及测试治具。测试治具包括治具本体、测试探针、固定板及用于放置电路板的定位件。治具本体设有安装部，测试探针设于安装部。定位件固定于固定板，并活动地穿设于治具本体，使治具本体能够相对固定板运动。电路板测试时，固定板连接于测试设备本体，并将电路板放置于定位件上，使固定板及电路板相对测试设备本体保持不动。若治具本体与电路板的位置出现偏差，固定板及电路板保持不动，带动测试探针及治具本体整体进行微调。如此，能够避免测试探针的弯曲变形，从而有效延长测试探针的使用寿命，并且使得该测试治具的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113092983 B
(45)授权公告日 2022.06.14
(21)申请号 202110192407.9 (56)对比文件
(22)申请日 2021.02.20
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