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一种基于相移技术的对称叠加态涡旋光的一次性测量方法.pdfVIP

一种基于相移技术的对称叠加态涡旋光的一次性测量方法.pdf

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    本发明涉及一种基于相移技术的对称叠加态涡旋光的一次性测量方法。该方法包括两种策略：一种是用于振幅测量的环提取策略，另一种是用于相位测量的旋转测量策略。在概念验证实验中，对复振幅进行了表征，并对模式纯度进行了测量。该方法可用来评估生成的对称叠加态涡旋光的质量，所需时间短，可以表征对称叠加态涡旋光的复振幅，仅需极少时间即可实现模式纯度的测量，虽使用了相移技术，但已不再需要额外的参考光进行干涉。本方法具有良好的灵活性、快速性和鲁棒性，可适用于各种场合和恶劣条件。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113203486 A (43)申请公布日 2021.08.03 (21)申请号 202110529969.8 (22)申请日 2021.05.14 (71)申请人 中国人民解放军战略支援部队航天

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