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一种半导体器件,包括:第一源极/漏极;第二源极/漏极,在水平方向上与所述第一源极/漏极隔离以不直接接触;沟道,在所述第一源极/漏极与所述第二源极/漏极之间延伸;栅极,围绕所述沟道;上内间隔物,在所述栅极与所述第一源极/漏极之间并且在所述沟道上方;以及下内间隔物,在所述栅极与所述第一源极/漏极之间并且在所述沟道下方,其中,所述沟道包括:基部,在所述第一源极/漏极与所述第二源极/漏极之间延伸;上突出部,从所述基部的顶表面向上突出;以及下突出部,从所述基部的底表面向下突出,并且所述上突出部的顶端与所述
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114823844 A
(43)申请公布日 2022.07.29
(21)申请号 202111212561.4
(22)申请日 2021.10.18
(30)优先权数据
10-2021-0011700
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