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本发明涉及一种半导体结构,该半导体结构包括:位于衬底半导体层的顶表面上的半导体器件、较低层级金属互连结构、源极层级材料层以及三维存储器阵列,该三维存储器阵列包括:绝缘层和导电层的交替堆叠,以及竖直延伸穿过该交替堆叠并且包括相应的竖直半导体沟道和相应的存储器膜的存储器堆叠结构。绝缘板和介电材料板的竖直交替序列被该交替堆叠横向围绕。直通存储器层级互连通孔结构竖直延伸穿过该竖直交替序列内的每个板并且接触该较低层级金属互连结构中的一者的顶表面的中心部分。至少一个氮化硅衬垫防止或减少该直通存储器层级互连通
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114830329 A
(43)申请公布日 2022.07.29
(21)申请号 202180006577.1 (74)专利代理机构 北京市柳沈律师事务所
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