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本发明提供了一种基于224个InDel和57个SNP位点的二代测序检测体系，包括引物组合、试剂盒及配套的DNA分型方法。所述引物组合能够同时扩增224个InDel位点和57个SNP位点，所述InDel位点包括178个常染色体InDel位点、38个X染色体InDel位点和8个Y染色体InDel位点，所述SNP位点为表型信息常染色体SNP位点。本发明检测体系应用了单管内复合扩增和二代测序技术，可一次性获得多个样本的常染色体、X染色体、Y染色体上的候选InDel和SNP位点的遗传标记信息，减少操作步骤
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114774409 A
(43)申请公布日 2022.07.22
(21)申请号 202210237635.8 C12Q 1/6888 (2018.01)
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