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- 2023-06-17 发布于四川
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根据本公开的示例实施例，提供了用于检测缺陷的方法、设备和计算机可读存储介质。在接收到将要用于训练缺陷检测模型的候选图像集后，从已用于训练缺陷检测模型的历史图像集中选择一组历史图像。候选图像集和历史图像集中的图像包括与图像中的对象有关的缺陷。从候选图像集中确定一组代表性图像。代表性图像能够反映候选图像集中的多个不同图像的图像特征。然后，至少基于所选择的一组历史图像和一组代表性图像，训练缺陷检测模型。经训练的缺陷检测模型用于检测与待检测图像中的对象有关的缺陷。本公开的实施例能够加速缺陷检测模型的增量
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113269255 A
(43)申请公布日 2021.08.17
(21)申请号 202110580668.8
(22)申请日 2021.05.26
(71)申请人 全芯智造技术有限公司
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