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- 2023-06-21 发布于四川
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本发明提供了一种芯片工艺角的确定方法及其确定装置、监控方法。该确定方法包括：获取每条环形振荡器在不同PVT条件下的Rosc仿真值；获取每条环形振荡器的Rosc实测值；根据Rosc实测值和Rosc仿真值，确定每种临界电压单元对应的参考环形振荡器，其中，在由相同种临界电压单元组成的环形振荡器中，参考环形振荡器的Rosc仿真值和Rosc实测值的相关性最好；获取不同PVT条件下的关键路径、以及每条关键路径中不同种临界电压单元的时延占比；根据时延占比和参考环形振荡器，获得每种PVT条件对应的Rosc仿真参
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113378501 B
(45)授权公告日 2022.07.29
(21)申请号 202110722825.4 (56)对比文件
(22)申请日 2021.06.28
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