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本申请公开了一种芯片内建自测试电路、方法及半导体装置。其中电路采用FPGA根据时钟比较结果来执行不同操作,当所述比较结果相等时,所述FPGA控制电路停止工作,并输出完成标识;当所述比较结果不相等时,所述FPGA控制所述第一分频器或所述第二分频器以预设步进值改变分频比,使得调整后的第一计数值与第二计数值差值满足精度要求,并将调整步数发送给修调电路来改变所述第二时钟信号。本申请通过以上技术方案可以提升芯片修调效率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116298773 A
(43)申请公布日 2023.06.23
(21)申请号 202211714025.9
(22)申请日 2022.12.27
(71)申请人 格睿通智能科技 (深圳)有限公司
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