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本申请涉及芯片及电子设备技术领域，具体涉及一种校准测量装置、校准测量方法及电子设备。本申请实施例提供的校准测量装置、校准测量方法及电子设备，开启后即可进入该校准处理流程，检测到用户执行了校准测量操作后，再对电子设备是否符合校准测量条件进行检测，当检测到电子设备符合校准测量条件时，根据第二处理信号获取校准测量数据，由于配置了校准处理流程，按照用户无需强制等待一个预设时长，有利于提高校准测量的速度；同时，由于在校准处理流程中用户执行了校准测量操作，能够避免校准测量数据是电子设备处于悬空或倾斜等非平放
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116295767 A
(43)申请公布日 2023.06.23
(21)申请号 202310223026.1
(22)申请日 2023.02.28
(71)申请人 芯海科技（深圳）股份有限公司
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