基于等径法的联轴质量监测与同轴定位系统及施工方法.pdfVIP

基于等径法的联轴质量监测与同轴定位系统及施工方法.pdf

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本发明公开了一种基于等径法的联轴质量监测与同轴定位系统及施工方法,系统包括:检测定位单元,其包括半径测量尺、壳体、等距缩进机构、设于下壳体几何中心的激光发射端;布置于底层联轴内部的联轴状态反馈单元,其包括支撑平台、激光接收端、硬件系统。通过利用圆心到圆周上各个点的距离相等且均为圆的半径的几何原理,结合三个圆周点可确定圆心的理论提出了半径测量尺的技术方案,此外通过设置等距缩进机构在实现对圆周进行定位的同时,由于定位边的等量缩进,配合激光发射端实现了轻松得到联轴中心轴线的技术效果;此外在底层联轴内部

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116296381 A (43)申请公布日 2023.06.23 (21)申请号 202310129993.1 (22)申请日 2023.02.17 (71)申请人 中国一冶集团有限公司 地址 43

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