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电子显微镜资料;电子显微镜;一、电子显微镜概述;二、电子显微镜发展历史;高分辨透射电子显微镜图例;三、电子显微镜与光学显微镜的简单比较;三、电子显微镜与光学显微镜的简单比较;三、电子显微镜与光学显微镜的简单比较;四、电子显微镜的分类;1.透射电镜; 透射电子显微镜由电子光学系统、电源与控制系统及真空系统三部分组成。 电子光学系统通常称镜筒，是透射电子显微镜的核心。它分为三部分，即照明系统、成像系统和观察记录系统。 照明系统主要由电子枪、聚光镜、电子束平移和倾斜装置组成。 成像系统主要由物镜、中间镜和投影镜组成。 观察和记录系统包括荧光屏和照相装置。 电源和控制系统主要包括三部分：灯丝电源和高压电源（使电子枪产生稳定的高能照明电子束）；各电磁透镜的稳压稳流电源（使各电磁透镜具有高的稳定度）；电气控制电路（用来控制真空系统、电气合轴、自动聚焦、自动照相等）。 电子显微镜工作时，整个电子通道都必须处于真空中。; 照明系统主要由电子枪、聚光镜、电子束平移和倾斜装置组成。其作用是提供一束亮度高、照明孔径角小、平行度好、束流稳定的照明源。为满足明场和暗场成像要求，照明束可在2～3o范围内倾斜。 电子枪等位面; ;1.透射电镜;1.透射电镜;第16页/共31页;1.透射电镜;设备名称 分析透射电镜 型???? 号 Tecnai G2 20 （FEI 公司） 功能及用途 应用领域：用于金属材料、陶瓷材料、复合材料及高分子生物材料的结构及化学组成的微观可视性观察和分析主要用途：透射电镜样品形貌，相应选区电子衍射观察微衍射及相干电子衍射观察；配合特征X射线能谱仪(EDS)进行成分分析 技术指标 点分辨率：0.23 nm线分辨率：0.14 nm放大倍数：25X～1050000X常用附件：EDAX 能谱仪;2.扫描电镜;;聚焦电子束入射到固体样品上时，电子运动方向发生改变，产生散射，按照动能是否变化，可分为两类： 弹性散射：入射电子只改变方向，动能基本无变化。符合布拉格定律，携带有晶体结构、对称性、取向和样品厚度等信息。 非弹性???射：入射电子的方向和动能都变化。入射电子损失能量伴随各种信息产生。用于电子能量损失谱，提供成分和化学信息，也用于特殊成像或衍射模式。;;;工作原理：光栅扫描，逐点成像 光栅扫描：电子束受扫描系统控制在样品表面作逐行扫描，同时控制电子束的扫描线圈上的电流与显示器相应偏转线圈上的电流同步，因此，试样上的扫描区域与显示器上的图像相对应，每一物点均对应于一像点。 逐点成像：电子束所到之处，每一物点都会产生相应的信号（如二次电子等），产生的信号被接收放大后用来调制像点的亮度，信号越强，像点越亮。这样就在显示器得到与样品上扫描区域相对应但经过高倍放大的图像，图像客观地反映着样品上的形貌（或成分）信息。;;; 1.透射电镜（TEM）的放大倍数一般要比扫描电镜（SEM）高 2. 如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况，你就必须要用TEM来观察了，SEM通常看材料的缺口断面，当然还有许多其他应用。? ?SEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM是穿透试样,而电子束穿透能力很弱,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般放大能达几百w倍,而SEM只有几万倍.? ?? ?扫描电镜通常用在一些断口观察分析,外加一个能谱仪,可以进行能谱扫描.其放大倍数相对较低,操作方便,样品制作简单,对于高聚物,须进行喷金处理 TEM则可以观看样品的内部结构,粒子的分散等.其放大倍数一般高于SEM;;;;感谢观看!