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- 2023-06-26 发布于四川
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本发明提供了一种用于测试机台中的测试电压补偿方法、装置及介质，所述电压测试机台的测试电压补偿方法包括：基于初始测试电压对目标待测器件进行初始测试，以获取目标待测器件的相应测试电路的总电阻；确定第三测试通道，将所述第一测试通道、所述第二测试通道和所述第三测试通道基于两两短路接通形成对应的通道组，获取通道组各自的电阻并联立电阻方程组以计算第一测试通道的电阻和所述第二测试通道的电阻；基于目标待测器件的相应测试电路的总电阻以及所述第一测试通道的电阻和所述第二测试通道的电阻，计算所述初始测试电压补偿后的目
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116298814 A
(43)申请公布日 2023.06.23
(21)申请号 202310352899.2
(22)申请日 2023.04.04
(71)申请人 上海精积微半导体技术有限公司
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