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基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统.pdf

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基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统,属于光学成像领域,本发明为解决量子成像受到散射介质干扰而发生图像畸变的问题。本发明包括光束发射部、光束接收部和散射介质;光束发射部发射的光束经散射介质到达成像目标表面,再从成像目标表面反射穿透散射介质,回波光束被接收光学部接收并成像;首先,光束发射部利用空间光调制器调制产生点源光束,光束接收部获得穿透散射介质量子成像系统的点扩散函数;然后,光束发射部利用空间光调制器调制产生轨道角动量光束,光束接收部获得穿透散射介质量子成像系统的畸变图像;将点扩散函数和畸

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116337818 A (43)申请公布日 2023.06.27 (21)申请号 202310182312.8 G02B 27/00 (2006.01)

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