测试框架调整方法、装置、存储介质以及电子设备.pdfVIP

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2023-07-01 发布于四川
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测试框架调整方法、装置、存储介质以及电子设备.pdf

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本发明公开了一种测试框架调整方法、装置、存储介质以及电子设备。该方法包括：在将测试框架应用到目标测试环境中的情况下，获取目标测试环境对应的调整参数项，其中，调整参数项为测试框架中待调整参数值的参数项；提示调整参数项；在接收到调整参数项的调整参数值的情况下，使用调整参数值替换调整参数项的原始参数值；使用调整后的所述测试框架执行测试。本发明解决了自动化测试框架中的参数调整效率低的技术问题。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116361164 A (43)申请公布日 2023.06.30 (21)申请号 202310284534.0 (22)申请日 2023.03.22 (71)申请人北京金迅瑞博网络技术有限公司地址