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本发明公开了一种测量超导带材临界弯曲半径的装置和方法。测量装置由一个变半径线圈模具、一个热处理卡装结构和一个样品杆组成，其中变半径线圈模具是核心部件，其包含不锈钢模具和铜模具两部分，形状都由多个不同半径大小的半圆环相接而成。带材在不锈钢模具上进行绕制，绕成的带材便在不同区段上具有不同的弯曲半径，然后将该部分放进卡装结构中进行热处理。取出热处理后的线圈，焊接在铜模具的缝隙中，然后将铜模具安装在样品杆上。半圆环之间的连接处为测量点，通过对这些点的测量便可知晓哪些圆环发生了失超，从而可以利用该发明装置
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113720256 A
(43)申请公布日 2021.11.30
(21)申请号 202110969584.3
(22)申请日 2021.08.23
(71)申请人 中国科学院合肥物质科学研究院
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