用于标记和检测缺陷的方法、设备、存储介质和程序产品.pdfVIP

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  • 2023-07-02 发布于四川
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用于标记和检测缺陷的方法、设备、存储介质和程序产品.pdf

根据本公开的示例实施例,提供了用于检测缺陷的方法、设备和计算机可读存储介质。用于训练缺陷检测模型的方法包括:确定针对对象的样本图像中的第一区域,样本图像包括对象的缺陷,并且第一区域至少部分地包围对象的缺陷;基于第一区域,标识样本图像中的第二区域,第二区域与缺陷的一个或多个属性相关联;以及至少基于样本图像和第二区域,训练缺陷检测模型,以用于从待检测图像中检测潜在缺陷。本公开的实施例能够使提高缺陷检测的准确性。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113744252 A (43)申请公布日 2021.12.03 (21)申请号 202111046007.3 (22)申请日 2021.09.07 (71)申请人 全芯智造技术有限公司

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